Одним из главных принципов уникальной «системы Физтеха», заложенной в основу образования в МФТИ, является тщательный отбор одаренных и склонных к творческой работе представителей молодежи. Абитуриентами Физтеха становятся самые талантливые и высокообразованные выпускники школ всей России и десятков стран мира.

Студенческая жизнь в МФТИ насыщенна и разнообразна. Студенты активно совмещают учебную деятельность с занятиями спортом, участием в культурно-массовых мероприятиях, а также их организации. Администрация института всячески поддерживает инициативу и заботится о благополучии студентов. Так, ведется непрерывная работа по расширению студенческого городка и улучшению быта студентов.

Адрес e-mail:

Анизотропия рассеяния шлифованных поверхностей KTiOPO4 и ее использование для точной ориентации кристаллов

А.Г.Семиглазов, студент V курса МИСИС; О.Е.Сидорюк, зав. лаб., к.ф.-м.н.

Московский институт стали и сплавов,

НИИ «Полюс»

 

            Кристаллы КТР нашли широкое применение в качестве нелинейных элементов для генерации второй и смешанных гармоник лазерного излучения, параметрических генераторов света. Поскольку характер всех процессов нелинейной оптики существенно зависит от направления распространения излучения в кристалле, особое значение имеет достижение необходимой точности кристаллической ориентации при формообразовании элементов для ГВГ и ПГС.

Установлено, что амплитуда сигнала при регистрации пространственной диаграммы рассеяния уменьшается с уменьшением шероховатости поверхности и увеличением угла между плоскостью поверхности образца и плоскостью спайности кристалла. Тем не менее эффект анизотропного рассеяния отчетливо наблюдается при углах j вплоть до 40\circ

Возможность его использования при ориентации кристаллов КТР рассмотрена на ряде примеров изготовления элементов для ГВГ и ПГС. Достигнутая чувствительность настройки на максимальный сигнал позволяет определять пространственное положение плоскости Х в кристалле КТР с точностью около 6 минут. Предложенный метод оказывается в ряде случаев более удобной альтернативой ориентации кристаллов с использованием дифракции рентгеновских лучей.

Если вы заметили в тексте ошибку, выделите её и нажмите Ctrl+Enter.

© 2001-2016 Московский физико-технический институт
(государственный университет)

Техподдержка сайта

МФТИ в социальных сетях

soc-vk soc-fb soc-tw soc-li soc-li
Яндекс.Метрика