Адрес e-mail:

НОЦ "Нанотехнологии". Оптический микроскоп Olympus BX51M

 

Оптический отражающий микроскоп Olympus BX51M предназначен для визуального контроля качества выполнения технологических операций.

 

Технические характеристики

- максимальная высота образца – 65 мм без оправы

- ход фокуса – 25 мм с минимальным шагом 1 мкм

- максимальное разрешение – до 300 нм

- встроенная камера для съемки изображений

- съемка и просмотр поверхности в светлопольном и 

темнопольном режимах получения изображения





Если вы заметили в тексте ошибку, выделите её и нажмите Ctrl+Enter.

© 2001-2020 Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет)

Противодействие коррупции | Сведения о доходах

Политика обработки персональных данных МФТИ

Техподдержка сайта | API

Использование новостных материалов сайта возможно только при наличии активной ссылки на https://mipt.ru

МФТИ в социальных сетях