Адрес e-mail:

НОЦ "Нанотехнологии". Профилометр AMBIOS XP-200

 

Профилометр AMBIOS XP-200 позволяет проводить сканирование поверхности образца в двух направлениях для анализа высоты ступени или шероховатости поверхности. Зонд сканирует поверхность образца с заданной скоростью, при этом фиксируется его положение на маленьких и одинаковых интервалах. Профилометр оснащен цветной камерой с диапазоном увеличений от 40 до 160 крат и полностью моторизованным и программируемым перемещением рабочего стола.

 

Технические характеристики

Диапазон высот

от 1 нм до 1,2 мм

Вертикальное разрешение

0,1 нм в диапазоне 2,5 мкм

100 нм в диапазоне1,2 мм

Диапазон сканирования

максимум 55 мм

Максимальный размер образца

диаметр до 200 мм и высота до 55 мм

Зонд (стандартный)

алмаз, радиус скругления 2,5 мкм

Прижимная сила зонда

программируемая от 0,03 до 10 мг

 

 

Если вы заметили в тексте ошибку, выделите её и нажмите Ctrl+Enter.

© 2001-2020 Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет)

Противодействие коррупции | Сведения о доходах

Политика обработки персональных данных МФТИ

Техподдержка сайта | API

Использование новостных материалов сайта возможно только при наличии активной ссылки на https://mipt.ru

МФТИ в социальных сетях