Адрес e-mail:
Прошедшие события
Общефизический научный семинар состоится 23 сентября
Лекция о моделировании заболеваний ЦНС на рыбках данио-рерио
Панельная онлайн-дискуссия на тему «Новая волна. Акселерация будущего»
Онлайн-собрание ректората и студенческого актива института
AI 2020: технологии, рынок и управление продуктами
Родительское собрание в МФТИ
Летняя онлайн-школа «Всероссийский навигатор абитуриентов МФТИ»
Фазли Атауллаханов: «Физика свертывания крови и COVID-19»
Юрий Яровиков: «Какая математика нужна в анализе данных?»
Михаил Бурцев — об экспериментах с Memory Transformer
Даниил Поляков: «Мощь Python на все случаи жизни»
Презентация магистерской программы «Биоинформатика» ФБМФ и Napoleon IT
Александр Львовский: «Квантовая революция как мировой технологический тренд»
Выпускной МФТИ 2020: онлайн-формат не отменяет праздник
Директор ФИАН Николай Колачевский: «Наука и технологии: путь в лидерство»
Онлайн-презентация кафедры космической физики ЛФИ
Сессия вопросов-ответов с биоинформатиком Антоном Буздиным
Презентация магистерской программы «Физика сверхпроводимости и квантовых материалов»
Презентация магистерской программы «Двумерные материалы: физика и технология наноструктур»
Презентация магистерской программы «Цифровые технологии в бизнесе»

Лекция профессора Рафаля Дунина-Борковского «Новые направления в просвечивающей электронной микроскопии»

Лекция профессора Рафаля Дунина-Борковского «Новые направления в просвечивающей электронной микроскопии»
21 апреля в МФТИ профессор Рафаль Эдвард Дунин-Борковский, директор института Питера Грюнберга, Исследовательский центр Юлих (Германия) прочитает лекцию «Новые направления в просвечивающей электронной микроскопии». 

Профессор Рафаль Дунин-Борковский начнет свою лекцию с описания последних разработок в просвечивающей электронной микроскопии, которые основаны на достижениях в микроанализе и получении изображений с коррекцией аберраций. Эти разработки увеличили возможности по получению количественной информации о локальной микроструктуре и химическом составе материалов в межатомных масштабах. Затем будут описаны несколько специализированных методов и приемов в электронной микроскопии. 

Один из этих методов, электронная голография, позволяет измерить в наномагнитнах и полупроводниковых структурах вариации магнитного поля или электростатического потенциала как функцию приложенного внешнего магнитного поля или напряжения in situ в ходе работы электронного микроскопа. Сочетая электронную голографию с электронной томографией, можно получить количественную информацию о магнитных полях и электростатических потенциалах в материалах с пространственным разрешением более 10 нм. 

В своей лекции Профессор Рафаль Эдвард Дунин-Борковский приведет также персональную точку зрения по поводу направлений, в которых будут развиваться аппаратное применение и методы просвечивающей электронной микроскопии. Такие разработки в сочетании с прогрессом в технологиях подготовки образцов и компьютеризованного построения изображения могут привести к методам, позволяющим описать положения, химическую принадлежность, магнитный момент и электростатический потенциал единичных атомов в трех измерениях.
Если вы заметили в тексте ошибку, выделите её и нажмите Ctrl+Enter.

© 2001-2020 Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет)

Противодействие коррупции | Сведения о доходах

Политика обработки персональных данных МФТИ

Техподдержка сайта | API

Использование новостных материалов сайта возможно только при наличии активной ссылки на https://mipt.ru

МФТИ в социальных сетях