Одним из главных принципов уникальной «системы Физтеха», заложенной в основу образования в МФТИ, является тщательный отбор одаренных и склонных к творческой работе представителей молодежи. Абитуриентами Физтеха становятся самые талантливые и высокообразованные выпускники школ всей России и десятков стран мира.

Студенческая жизнь в МФТИ насыщенна и разнообразна. Студенты активно совмещают учебную деятельность с занятиями спортом, участием в культурно-массовых мероприятиях, а также их организации. Администрация института всячески поддерживает инициативу и заботится о благополучии студентов. Так, ведется непрерывная работа по расширению студенческого городка и улучшению быта студентов.

Адрес e-mail:

Кристаллография и рентгеноструктурный анализ. Весенний семестр 2016 года.

План занятий:

17.02 Лекция 1 - Симметрия кристаллической решетки. Первая частьВторая часть.

18.02 Практикум по LabView  

24.02 Лекция 2 - Введение в физику дифракции. Первая частьВторая часть.

25.02 Практикум по LabView

02.03 Лекция 3 - Анализ формы дифракционного пика.

03.03  10.00, в 115 ауд. магнитного корпуса ИФТТ - А.А.Жуков, Введение в атомно-силовую микроскопию. Далее по группам - ознакомительный практикум по атомно-силовой микроскопии и завершение практикума по LabView.

09.03 Лекция 4 - Введение в физику дифракции. Третья частьЧетвертая часть.

10.03 С 10.00 до 16.00 по группам - ознакомительный практикум по атомно-силовой микроскопии и завершение практикума по LabView. В 16.00 - А.А.Жуков, Современные сканирующие методики на основе зондовой микроскопии.

16.03 Лекция 5

17.03 С 10.00 практикум по малым гуппам 1-4.

23.03 Лекция 6. Сканирующая электронная микроскопия: Часть 1Часть 2. Просвечивающая электронная микроскопия: Часть 1Часть 2.

24.03 С 10.00 практикум по малым группам 1-4.

30.03 Завершающие лекции и решение задач. Часть 1. Часть 2Задачи.

31.03 С 10.00 практикум по малым группам 1-4.

06.04 С 11.00 практикум по малым группам 1-4.

13.04 и 29.04 - индивидуальное завершение всех задач, подготовка отчетов по задачам

27.04 - семинары (защиты отчетов)

Методические материалы к практикуму 

Атомно-силовая микроскопия.

Рентгеновская дифракция и просвечивающая электронная микроскопия:
Описание задачи;
- Учебные материалы: описание лабораторной работывведение в структурный анализ нанокристаллов.

Сканирующий электронный микроскоп:
Описание задачи;
Учебные материалы.
Если вы заметили в тексте ошибку, выделите её и нажмите Ctrl+Enter.

© 2001-2016 Московский физико-технический институт
(государственный университет)

Техподдержка сайта

МФТИ в социальных сетях

soc-vk soc-fb soc-tw soc-li soc-li
Яндекс.Метрика