Кафедра нанометрологии и наноматериалов

Направления исследований и разработок

- Развитие методов измерений параметров наноматериалов, разработка стандартных образцов, методик измерений и государственных стандартов для обеспечения единства измерений в нанометровом диапазоне.

- Разработка перспективной компонентной базы наноэлектроники и оптоэлектроники: поисковые исследование функциональных материалов и создание рабочих прототипов элементов компонентной базы на их основе.

- Развитие технологической базы печатной электроники, основанной на управляемой доставке наночастиц с помощью жидких дисперсий и аэрозолей.

Базовые организации и лаборатории

- Всероссийский Научно-Исследовательский Институт Оптико-Физических Измерений, руководитель А.С. Батурин;

Развитие методов измерений параметров наноматериалов, разработка стандартных образцов, методик измерений и государственных стандартов для обеспечения единства измерений в нанометровом диапазоне;

- Центр испытаний функциональных материалов МФТИ, руководитель В.В. Иванов;

Материалы и технологии для аддитивного формирования микроструктур электроники и фотоники;

- лаборатория нейровычислительных систем МФТИ, руководитель Д.В. Негров;

Нейроморфные вычислительные системы;

- лаборатория функциональных материалов и устройств для наноэлектроники МФТИ, руководитель А.В. Зенкевич;

Компонентная база для энергонезависимой памяти и нейроморфных вычислений;

- лаборатория оптоэлектроники двумерных материалов МФТИ, руководитель Д.А. Свинцов;

Исследования оптических и электронных свойств двумерных материалов для создания оптоэлектронных приборов.

- группа атомно-слоевого осаждения при Центре коллективного пользования МФТИ, руководитель А.М. Маркеев;

Разработка материалов для микро- и наноэлектроники.

- лаборатория технологий 3D-печати функциональных микроструктур, руководитель А.Г. Витухновский;

Органические и квантово-размерные оптоэлектронные микроструктуры.

Взаимодействие углеродных структур с электромагнитным излучением. Разработка насыщающихся поглотителей для лазеров с рабочими длинами волн в диапазоне 2.1-2.4 мкм. Разработка прозрачных проводящих электродов на основе пленок из одностенных углеродных нанотрубок.

Общая информация

            Наличие высококвалифицированного кадрового обеспечения – необходимое условие успеха любой отрасли. Простой тезис «Если нельзя измерить, то нельзя и произвести» определяет актуальность и значимость вопросов метрологического обеспечения нанотехнологий. В 2008 г. с целью подготовки высококвалифицированных кадров для метрологического обеспечения исследований и разработок в области нанотехнологий РОСНАНО профинансировало разработку магистерской программы «Нанодиагностика, метрология, стандартизация и сертификация продукции нанотехнологий и наноиндустрии», для реализации которой в МФТИ была организована кафедра нанометрологии.  

            По мере развития базы технологического и измерительного оборудования, позволяющей осуществлять базовые операции литографического цикла твердотельной электроники; проводить работы с нанодисперсиями и аэрозолями и т.д. сформировалось направление по разработке перспективной компонентной базы наноэлектроники и оптоэлектроники. Данное направление подразумевает активные поисковые исследования функциональных наноматериалов и создание рабочих прототипов элементов компонентой базы на их основе, в частности прототипов ячеек энергонезависимой памяти на эффекте резистивного переключения (ReRAM) и на эффекте поляризации сегнетоэлектрических плёнок (FeRAM); мемристоров для нейроморфных вычислений. В связи с расширением тематик работ в 2014 году кафедра получила обновленное название: «кафедра нанометрологии и наноматериалов». 

Учебные курсы кафедры

4 курс

1. Метрология в нанотехнологиях, М.Н. Филиппов

2. Материаловедение наноструктурированных материалов, Д.А. Свинцов

3. Электронные и транспортные свойства низкоразмерных систем и наноструктур, Г.Е. Фёдоров

4. Методы математической статистики, Д.В. Негров

5 курс

1. Физико-химические основы технологий микро- и наноэлектроники, А.М. Маркеев

2. Химия твердого тела, П.С. Чижов

3. Вычислительные методы в химии и физике конденсированного состояния, Д.В. Негров

4. Приборы и методы рентгеновской и электронной дифракции, П.С. Чижов

5. Практикум по созданию и исследованию микро- и наносистем, Р. В. Киртаев

Контакты для оперативной связи

Заместитель заведующего кафедрой:

к.ф.-м.н., доцент

Чуприк Анастасия Александровна,

chouprik.aa@mipt.ru