Кафедра нанометрологии и наноматериалов

Направления исследований и разработок

- Развитие методов измерений параметров наноматериалов, разработка стандартных образцов, методик измерений и государственных стандартов для обеспечения единства измерений в нанометровом диапазоне.

- Разработка перспективной компонентной базы наноэлектроники и оптоэлектроники: поисковые исследование функциональных материалов и создание рабочих прототипов элементов компонентной базы на их основе.

- Развитие технологической базы печатной электроники, основанной на управляемой доставке наночастиц с помощью жидких дисперсий и аэрозолей.

 

Базовые организации и лаборатории

ОАО «Научно-исследовательский институт по изучению свойств поверхности и вакуума»;

ООО «Метрологический центр РОСНАНО», Центр испытаний функциональных материалов;

НОЦ «Нанотехнологии» МФТИ, Лаборатория функциональных материалов и устройств для наноэлектроники

 

Общая информация

            Наличие высококвалифицированного кадрового обеспечения – необходимое условие успеха любой отрасли. Простой тезис «Если нельзя измерить, то нельзя и произвести» определяет актуальность и значимость вопросов метрологического обеспечения нанотехнологий. В 2008 г. с целью подготовки высококвалифицированных кадров для метрологического обеспечения исследований и разработок в области нанотехнологий РОСНАНО профинансировало разработку магистерской программы «Нанодиагностика, метрология, стандартизация и сертификация продукции нанотехнологий и наноиндустрии», для реализации которой в МФТИ была организована кафедра нанометрологии.  

            По мере развития базы технологического и измерительного оборудования, позволяющей осуществлять базовые операции литографического цикла твердотельной электроники; проводить работы с нанодисперсиями и аэрозолями и т.д. сформировалось направление по разработке перспективной компонентной базы наноэлектроники и оптоэлектроники. Данное направление подразумевает активные поисковые исследования функциональных наноматериалов и создание рабочих прототипов элементов компонентой базы на их основе, в частности прототипов ячеек энергонезависимой памяти на эффекте резистивного переключения (ReRAM) и на эффекте поляризации сегнетоэлектрических плёнок (FeRAM); мемристоров для нейроморфных вычислений. В связи с расширением тематик работ в 2014 году кафедра получила обновленное название: «кафедра нанометрологии и наноматериалов». 

Научная работа студентов

 

Предлагаемые тематики научных работ студентов:

 

Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума

1. Стандартные образцы для калибровки просвечивающей и растровой электронной микроскопии, атомно-силовой микроскопии, д.ф.-м.н. П.А. Тодуа.

2. Эталонные метрологические РЭМ и АСМ, к.ф.-м.н. А.В. Заблоцкий.

3. Развитие методов эллипсометрии, д.ф.-м.н. В.П. Гавриленко.

 

НОЦ «Нанотехнологии»

1. Энергонезависимая сегнетоэлектрическая память (FRAM, FeRAM, FeFET), к.ф.-м.н. А.В. Зенкевич,  к.ф.-м.н. А.М. Маркеев, к.ф.-м.н. А.В. Заблоцкий.

2. Энергонезависимая память на эффекте резистивного переключения (ReRAM), к.ф.-м.н. А.М. Маркеев, к.ф.-м.н. А.В. Заблоцкий.

3. Мемристоры для нейроморфных вычислений, к.ф.-м.н. А.В. Зенкевич.

4. Развитие методов атомно-слоевого осаждения, к.ф.-м.н. А.М. Маркеев.

5. Атомная оптика и ультра холодные атомы, д.ф.-м.н. В.И. Балыкин.

6. Нанооптика, нанофотоника и наноплазмоника, д.ф.-м.н. В.И. Балыкин.

7. Высокочувствительные молекулярно-электронные сейсмические датчики, к.ф.-м.н. В.М. Агафонов.

 

Центр испытаний функциональных материалов

1. Развитие методов печатной электроники, член-корр. РАН В.В. Иванов.

2. Функциональные материалы катодо- и фотолюминофоров, член-корр. РАН В.В. Иванов.

3. Функциональные материалы для автоэмиссионной электроники, д.ф.-м.н. Е.П. Шешин.

  

Учебные курсы кафедры

4 курс

1. Метрология в нанотехнологиях, лекции, д.ф.-м.н. М.Н. Филиппов.

2. Материаловедение наноструктурированных материалов, лекции, к.ф.-м.н. Д.А. Свинцов.

3. Приборы и методы исследования наноструктур и нанообъектов, к.ф.-м.н. А.В. Заблоцкий.

4. Лабораторный практикум по нанодиагностике, к.ф.-м.н. А.В. Заблоцкий.

5. Методы математической статистики, к.ф.-м.н. Д.А. Филимонов

 

5 курс

1. Физико-химические основы технологий микро- и наноэлектроники, к.ф.-м.н. А.В. Зенкевич, к.ф.-м.н. А.М. Маркеев

2. Практикум по созданию и исследованию микро- и наносистем, к.ф.-м.н. С.А. Зайцев

3. Управление качеством измерений, к.ф.-м.н. Ю.М. Токунов

4. Физико-химические свойства наноразмерных объектов, член-корр. В.В. Иванов

5. Приборы и методы рентгеновской и электронной дифракции, к.ф.-м.н. П.С. Чижов

6. Семинар по нанометрологии и наноматериалами, к.ф.-м.н. А.В. Заблоцкий

 

6 курс

1. Технологический проект, к.ф.-м.н. А.В. Заблоцкий

2. Семинар по нанометрологии и наноматериалами, А.В. Заблоцкий

 

Контакты для оперативной связи

Заместитель заведующего кафедрой:

к.ф.-м.н. Заблоцкий Алексей Васильевич,

+7-495-408-81-88

zalexx@gmail.com