Адрес e-mail:

Рентгеновская дифракция для анализа неорганических метериалов

Кафедра нанометрологии и наноматериалов МФТИ

Центр дополнительного профессионального образования МФТИ 

представляют 

программу курса повышения квалификации

«Рентгеновская дифракция 

для анализа неорганических материалов» 




Краткие данные курса:


Категория слушателей: профессорско-преподавательский состав МФТИ, специалисты.

Форма обучения: дистанционная;

Режим обучения: посредством системы дистанционного обучения и системы вебинаров;

Объем учебной программы: 38 часов;

Документ об окончании обучения: удостоверение о повышении квалификации установленного образца;

Начало занятий: 2 октября 2017 года;

Стоимость обучения: 20 000 рублей.



Перейти к предварительной записи на курс





Целевая аудитория курса обучения  руководители и специалисты центральных заводских лабораторий, аналитических и научно-исследовательских лабораторий, занимающихся измерениями и анализом данных с использованием современного дифрактометрического оборудования и программных комплексов. 

Цель данного курса обучения: освоение современных методов качественного и количественного рентгенодифрактометрического анализа.

Программа курса была разработана коллективом авторов в составе член-корр. РАН, профессора Е.В.Антипова, доцента кафедры неорганической химии МГУ, к.н.х. М.Г.Розовой, научного сотрудника, к.х.н. Лобанова М.В. и к.х.н. Чижова П.С.

Преподаватели:
  • Чижов П.С., к.х.н.; 
  • Казаков С.М.к.х.н. 

Структура программы:
  • Теоретические основы рентгенофазового анализа;
  • Обработка дифракционного эксперимента. Профильный анализ;
  • Качественный рентгенофазовый анализ. Использование баз данных ICDD;
  • Основы кристаллографии. Индицирование рентгенограмм;
  • Основы структурного анализа. Теоретическая рентгенограмма;
  • Количественный рентгенофазовый анализ. Методы внутреннего и внешнего стандартов;
  • Метод Ритвельда. Основы и практические аспекты применения. Бесстандартный рентгенофазовый анализ;
  • Текстура неорганических материалов и ее исследование методами рентгеновской дифракции;
  • Влияние микроструктуры образца на результаты дифракционного эксперимента;
  • Современное дифрактометрическое оборудование. Планирование эксперимента.
Если вы заметили в тексте ошибку, выделите её и нажмите Ctrl+Enter.

МФТИ в социальных сетях

soc-vk soc-fb soc-tw soc-li soc-li soc-yt
Яндекс.Метрика