Одним из главных принципов уникальной «системы Физтеха», заложенной в основу образования в МФТИ, является тщательный отбор одаренных и склонных к творческой работе представителей молодежи. Абитуриентами Физтеха становятся самые талантливые и высокообразованные выпускники школ всей России и десятков стран мира.

Студенческая жизнь в МФТИ насыщенна и разнообразна. Студенты активно совмещают учебную деятельность с занятиями спортом, участием в культурно-массовых мероприятиях, а также их организации. Администрация института всячески поддерживает инициативу и заботится о благополучии студентов. Так, ведется непрерывная работа по расширению студенческого городка и улучшению быта студентов.

Адрес e-mail:

Рентгеновская дифракция для анализа неорганических метериалов

Кафедра нанометрологии и наноматериалов МФТИ

Центр дополнительного профессионального образования МФТИ 

представляют 

программу курса повышения квалификации

«Рентгеновская дифракция 

для анализа неорганических материалов» 




Краткие данные курса:


Категория слушателей: профессорско-преподавательский состав МФТИ, специалисты.

Форма обучения: очная;

Режим обучения: 5 дней, от 6 до 10 часов каждый день, лекции в аудитории, практика в лаборатории;

Объем учебной программы: 38 часов;

Документ об окончании обучения: удостоверение о повышении квалификации установленного образца;

Регистрация на курс: с 06 июля 2015 года;

Начало занятий: по мере комплектования учебных групп;

Окончание занятий: через 5 дней после начала занятий;

Стоимость обучения: будет объявлена позже.



Перейти к предварительной записи на курс





Целевая аудитория курса обучения  руководители и специалисты центральных заводских лабораторий, аналитических и научно-исследовательских лабораторий, занимающихся измерениями и анализом данных с использованием современного дифрактометрического оборудования и программных комплексов. 

Цель данного курса обучения: освоение современных методов качественного и количественного рентгенодифрактометрического анализа.

Преподаватели:
  • Батурин А.С., к.ф.-м.н.; 
  • Заболоцкий А.В., к.ф.-м.н.

Структура программы:
  • Теоретические основы рентгенофазового анализа;
  • Обработка дифракционного эксперимента. Профильный анализ;
  • Качественный рентгенофазовый анализ. Использование баз данных ICDD;
  • Основы кристаллографии. Индицирование рентгенограмм;
  • Основы структурного анализа. Теоретическая рентгенограмма;
  • Количественный рентгенофазовый анализ. Методы внутреннего и внешнего стандартов;
  • Метод Ритвельда. Основы и практические аспекты применения. Бесстандартный рентгенофазовый анализ;
  • Текстура неорганических материалов и ее исследование методами рентгеновской дифракции;
  • Влияние микроструктуры образца на результаты дифракционного эксперимента;
  • Современное дифрактометрическое оборудование. Планирование эксперимента.
Если вы заметили в тексте ошибку, выделите её и нажмите Ctrl+Enter.

© 2001-2016 Московский физико-технический институт
(государственный университет)

Техподдержка сайта

МФТИ в социальных сетях

soc-vk soc-fb soc-tw soc-li soc-li
Яндекс.Метрика