Адрес e-mail:

ЦКП МФТИ. РЭМ JSM-7001F

Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-7001F (2009 г.)


Фотография высокого разрешения, полученная на JSM-7001F

РЭМ JSM-7001F Растровый электронный микроскоп JSM-7001F фирмы JEOL является высокоразрешающим электронным микроскопом с катодом Шоттки. Конструкция микроскопа позволяет получать высокое разрешение даже при низких ускоряющих напряжениях. Отличительной особенностью данного прибора является специальная геометрия объективной линзы, позволяющая проводить исследования магнитных образцов различного размера. РЭМ снабжен системой “Gentle Beam”, которая позволяет уменьшить заряд на непроводящих образцах и изучать их с высоким разрешением. 


Фотографии углеродных нанотрубок, выращенных в ЦКП МФТИ


Основные технические характеристики РЭМ JSM-7001F: 

· Катод Шоттки

· Ускоряющее напряжение от 0,5кВ до 30 кВ

· Ток пучка до 200 нА, при 15 кВ

· Диапазон увеличений от х10 до х500 000

· Пространственное разрешение:  1,2 нм при 30 кВ, 3 нм при 1 кВ

· Максимальный размер образца: диаметр до 200 мм


Сертификат калибровки средства измерений № 907 от  21.12.2016 г.



Если вы заметили в тексте ошибку, выделите её и нажмите Ctrl+Enter.

МФТИ в социальных сетях

soc-vk soc-fb soc-tw soc-li soc-li soc-yt
Яндекс.Метрика