Адрес e-mail:

ЦКП МФТИ. РЭМ JSM-7001F

Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-7001F (2009 г.) с модулем для энергодисперсионного анализа (2018 г.) и детектором обратно рассеянных электронов (2018 г.)


Фотография высокого разрешения, полученная на JSM-7001F

РЭМ JSM-7001F

Растровый электронный микроскоп JSM-7001F фирмы JEOL является высокоразрешающим электронным микроскопом с катодом Шоттки. Конструкция микроскопа позволяет получать высокое разрешение даже при низких ускоряющих напряжениях. Отличительной особенностью данного прибора является специальная геометрия объективной линзы, позволяющая проводить исследования магнитных образцов различного размера. РЭМ снабжен системой “Gentle Beam”, которая позволяет уменьшить заряд на непроводящих образцах и изучать их с высоким разрешением. 


Фотографии углеродных нанотрубок, выращенных в ЦКП МФТИ


Основные технические характеристики РЭМ JSM-7001F: 

Катод Шоттки

- Ускоряющее напряжение от 0,5кВ до 30 кВ

Ток пучка до 200 нА, при 15 кВ

Диапазон увеличений от х10 до х500 000

Пространственное разрешение:  1,2 нм при 30 кВ, 3 нм при 1 кВ

Максимальный размер образца: диаметр до 200 мм


РЭМ оснащен приставкой для энергодисперсионного анализа Bruker XLash 6/30:

- площадь детектора - 30 мм2

- разрешение по линии марганца - 123 эВ

- разрешение по линии углерода - 45 эВ

- скорость счета - 600.000 импульсов в секунду

- возможность определения элементов от бора до плутония


Также РЭМ оснащен детектором обратно рассеянных электронов.


Сертификат калибровки средства измерений № 1129/18 от  18.12.2018 г.



Если вы заметили в тексте ошибку, выделите её и нажмите Ctrl+Enter.

МФТИ в социальных сетях