Адрес e-mail:

ЦКП МФТИ. ПЭМ JEOL JEM-2100

Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2100 (2010 г.)


ПЭМ JEM-2100

ПЭМ Jeol JEM-2100 — многоцелевой аналитический просвечивающий электронный микроскоп. Благодаря высококачественным электронной пушке с LAB6 катодом и магнитным линзам микроскоп имеет разрешение 0,19 нм, таким образом позволяя получать прямые изображения атомной решётки. В микроскопе реализован как режим дифракции в сходящемся пучке, так и сканирующий режим с нанометровым разрешением.

Прямое изображение атомной решетки наночастиц оксида титана

Основные характеристики ПЭМ JEM-2100.

· Предельное разрешение:  0,19 нм

· Максимальное ускоряющее напряжение:  200 кВ

· Стабильность ускоряющего напряжения  ≤ 2*10-6 мин-1

· Стабильность тока объективной линзы  ≤ 1*10-6 мин-1

· Фокусное расстояние объективной линзы:  1,9 мм

· Сферическая аберрация объективной линзы: - 0,5 мм

· Максимальный угол наклона пучка: 10°

· Увеличение:  50-1500000 крат

· Диапазон углов наклона образца: ±20°

· Перемещение образца по осям X , Y :  2 мм

· Перемещение образца по оси Z : 0,1 мм

· Угол сходимости в режиме дифракции в сходящемся пучке: 1,5-20 мрад

· Размер электронного зонда в сканирующем режиме: 0,5-25 нм


Изображение сечения ячейки энергонезависимой памяти на эффекте резистивного переключения ( ReRAM )


Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2100 (сертификат калибровки средства измерений № 906 от 21.12.2016 г.) оснащен аналитической приставкой энергодисперсионного анализа Aztech X-Max 100 (сертификат калибровки средства измерений № 911 от 22.12.2016 г.).



Если вы заметили в тексте ошибку, выделите её и нажмите Ctrl+Enter.

МФТИ в социальных сетях

soc-vk soc-fb soc-tw soc-li soc-li soc-yt
Яндекс.Метрика