Одним из главных принципов уникальной «системы Физтеха», заложенной в основу образования в МФТИ, является тщательный отбор одаренных и склонных к творческой работе представителей молодежи. Абитуриентами Физтеха становятся самые талантливые и высокообразованные выпускники школ всей России и десятков стран мира.

Студенческая жизнь в МФТИ насыщенна и разнообразна. Студенты активно совмещают учебную деятельность с занятиями спортом, участием в культурно-массовых мероприятиях, а также их организации. Администрация института всячески поддерживает инициативу и заботится о благополучии студентов. Так, ведется непрерывная работа по расширению студенческого городка и улучшению быта студентов.

Адрес e-mail:

Методики измерений. ГОСТы

Методики измерений

1. Толщина тонкой пленки. Методика измерения с помощью рентгеновского дифрактометра. Свидетельство об аттестации методики №240/01.0317-2011/2015 от 25.12.2015 г.

2. Толщина МИМ-структур (металл-изолятор-металл). Методика измерения с помощью рентгеновского дифрактометра. Свидетельство об аттестации методики №239/01.0317-2011/2015 от 25.12.2015 г.

3. Толщина тонкой плёнки. Методика измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Свидетельство об аттестации методики №23/01.00317-2011/2014 от 28.11.2014 г.

4. Ширина литографической линии. Методика измерений с помощью растрового электронного микроскопа. Свидетельство об аттестации методики №232/01.00317-2011/2014 от 28.11.2014 г.

5. Площадь контактов. Методика измерений с помощью растрового электронного микроскопа в режиме регистрации отраженных электронов. Свидетельство об аттестации методики №225/01.00317-2011/2013 от 29.04.2013 г.

6. Локальный химический анализ оксидных наноразмерных структур. Методика измерений с помощью рентгеновского фотоэлектронного спектрометра. Свидетельство об аттестации методики №227/01.00317-2011/2013 от 29.04.2013 г.

7. Вольт-амперная характеристика наноматериалов и наноструктур. Методика измерений с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа. Свидетельство об аттестации методики №228/01.00317-2011/2013 от 29.04.2013 г..

8. Локальное электрическое сопротивление наноматериалов и наноструктур. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа для электрофизических измерений. Свидетельство об аттестации методики №71 ПВ от 07.05.2010 г.

9. Состав эпитаксиальных плёнок AlxGa1-xAs на подложке GaAs. Методика выполнения измерений с помощью порошкового рентгеновского дифрактометра.  Свидетельство об аттестации методики №70 ПВ от 07.05.2010 г.

10. Химический анализ поверхности. Методика выполнения измерений с помощью блока детектирования рентгеновского излучения в составе растрового электронного микроскопа. Свидетельство об аттестации методики №67ПВ от 15.12.2009 г.

11. Линейные размеры микро- и нанообъектов. Методика выполнения измерений с помощью растрового электронного микроскопа Quanta 200. Свидетельство об аттестации методики №58ПВ от 12.11.2009 г.

12. Эффективная шероховатость поверхности. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Ntegra Prima. Свидетельство об аттестации методики №56ПВ от 12.11.2009 г.

13. Метрические параметры поверхности. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Ntegra Prima. Свидетельство об аттестации методики №57ПВ от 12.11.2009 г.

14. Толщина и межслоевой период тонких плёнок. Методика выполнения измерений с помощью порошкового рентгеновского дифрактометра. Свидетельство об аттестации методики №69 ПВ от 07.05.2010 г.

 

ГОСТ (разработаны с участием  ЦКП МФТИ)

1. ГОСТ Р 8.628-2007. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления.

2. ГОСТ Р 8.629-2007. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки.

3. ГОСТ Р 8.630-2007. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика поверки.

4. ГОСТ Р 8.631-2007. Микроскопы электронные растровые измерительные. Методика поверки.

5. ГОСТ Р 8.635-2007. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки.

6. ГОСТ Р 8.636-2007. Микроскопы электронные растровые. Методика калибровки.

7. ГОСТ Р 8.644-2008. ГСИ. Меры рельефные нанометрового диапазона

с трапецеидальным профилем элементов. Методика калибровки.

8. ГОСТ Р 8.696-2010. ГСИ. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра.

9. ГОСТ Р 8.697-2010. ГСИ. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа.

10. ГОСТ Р 8.698-2010. ГСИ. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра.

11. ГОСТ Р 8.700-2010.  ГСИ. Методика измерений эффективной    высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа.

Если вы заметили в тексте ошибку, выделите её и нажмите Ctrl+Enter.

© 2001-2016 Московский физико-технический институт
(государственный университет)

Техподдержка сайта

МФТИ в социальных сетях

soc-vk soc-fb soc-tw soc-li soc-li
Яндекс.Метрика