Адрес e-mail:

ЦКП МФТИ. Интерферометрический микроскоп Nikon BW-D501

Интерферометрическая микроскопическая система на базе микроскопа Nikon BW-D501


Система предназначена для создания микроскопических изображений по методу светлого, темного поля или поляризации в составе  интерферометрической микроскопической системы (3D Профилометра) BW-D501 (Nikon Metrology) субнанометрового вертикального разрешения, основанного на методе сканирующей оптической интерферометрии.

Интерферометрическая микроскопическая система включает в себя следующие позиции.

1. Модуль микроскопа BW-LV150N (корпус микроскопа LV150N (100-240В) со встроенным трансформатором).

Возможные методы исследования: светлое поле, темное поле, ДИК-контраст, поляризация, флуоресценция, двухлучевая интерферометрия. Оптика, скорректированная на бескончность CF60-2. Высоэффективная диодная подсветка.

Минимальный шаг фокусировки - 1 мкм.

Полный ход фокусировки - 40 мм.

Максимальный размер образца - 38 мм.

Максимальный размер образца с дополнительной колонной увеличения штатива - 73 мм.

2. Тринокулярный тубус с возможность установки фото/видеокамеры.

Изображение прямое с максимальным полем зрения 25 мм и углом наклона окулярных трубок не более 22º.

Также имеется промежуточный тубус для установки камеры, который устанавливается на фото/видео выход тринокулярного тубуса и предназначен для совпадения фокальной плоскости изображения и матрицы камеры и C-Mount Adapter-  универсальный адаптер для фото/видеокамер.

3. Два УФ окуляра 10X с диоптрийной регулировкой в диапазоне в диапазоне -8…+5.

4. LV-UEPI2 универсальный модуль для исследований в отраженном свете  (светлое, темное поле, поляризация).

5. Пятипозиционная насадка для объективов револьверного типа для объективов ESD микоскопа, имеет гнезда для вставки ДИК-призмы для реализации метода ДИК контраста, обеспечивает установку темнопольных объективов. 

Резьба устанавливаемых объективов - 32 мм.

6. Объектив с увеличением 5х CFI TU Plan FLUOR BD 5X для наблюдений по методу светлого  и темного поля с коррекцией аберраций:

- числовая апертура - 0,15;

- парфокальное расстояние - 56 мм;

- рабочее расстояние - 18,0 мм.

7. Интерферометрический объектив с увеличением 20х CF PLAN DI 20XA для наблюдений по методу двухлучевой интерферометрии, с классом коррекции аберраций не ниже планахроматической:

- глубина фокуса - 1,71 мкм;

- числовая апертура - 0,4;

- оптическое разрешение - 0,86 мкм;

- рабочее расстояние - 4,7 мм.

     





   



Если вы заметили в тексте ошибку, выделите её и нажмите Ctrl+Enter.

© 2001-2020 Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет)

Противодействие коррупции | Сведения о доходах

Политика обработки персональных данных МФТИ

Техподдержка сайта | API

Использование новостных материалов сайта возможно только при наличии активной ссылки на https://mipt.ru

МФТИ в социальных сетях