Одним из главных принципов уникальной «системы Физтеха», заложенной в основу образования в МФТИ, является тщательный отбор одаренных и склонных к творческой работе представителей молодежи. Абитуриентами Физтеха становятся самые талантливые и высокообразованные выпускники школ всей России и десятков стран мира.

Студенческая жизнь в МФТИ насыщенна и разнообразна. Студенты активно совмещают учебную деятельность с занятиями спортом, участием в культурно-массовых мероприятиях, а также их организации. Администрация института всячески поддерживает инициативу и заботится о благополучии студентов. Так, ведется непрерывная работа по расширению студенческого городка и улучшению быта студентов.

Адрес e-mail:

ЦКП МФТИ

Центр коллективного пользования уникальным научным оборудованием в области нанотехнологий (ЦКП МФТИ)  является структурным подразделением МФТИ, созданным на основании приказа ректора №15-1 от 17 января 2007 г. Деятельность ЦКП МФТИ регламентируется Положением о ЦКП и Регламентом использования услуг ЦКП

Областью и предметом деятельности ЦКП МФТИ является обеспечение научных исследований приборной аналитической и технологической базой, в том числе оказание услуг сторонним организациями. В настоящий момент развитие измерительных и технологических возможностей ЦКП МФТИ, в том числе в области прототипирования электронной компонентной базы, осуществляются при финансовой поддержке Министерства образования и науки Российской Федерации (соглашение о предоставлении субсидии № 14.594.21.0009 от 22.08.2014 г., идентификатор проекта RFMEFI59414X0009 ).

ЦКП МФТИ располагает обширным парком метрологически обеспеченного аналитического и технологического оборудования, позволяющего проводить интенсивные исследования по таким направления развития науки, технологии и техники как индустрия наносистем и материалов, информационно-телекоммуникационные технологии, метрология низкоразмерных систем и др. Общая площадь лабораторий ЦКП МФТИ составляет более 400 м2. Основное технологическое оборудование расположено на территории «чистой зоны» класса ISO 6 общей площадью 80 м2. Также на данной технологической баз располагается Научно-образовательный центр "Нанотехнологии" (НОЦ "Нанотехнологии").


Аналитическое оборудование

-  Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2100 (сертификат калибровки средства измерений № 858/1 от 18.11.2015 г.).

Растровый электронный микроскоп высокого разрешения JEOL JSM-7001F (сертификат калибровки средства измерений № 858/2 от  18.11.2015 г.).

Растровый электронный микроскоп FEI Quanta 200  c аналитическими приставками для рентгеновского микроанализа (энергодисперсионный спектрометр - сертификат калибровки средства измерений № 858/4 от 18.11.2015 г.), изучения спектров катодолюминесценции, анализа дифракции обратно-рассеянных электронов.

- Двухлучевой растровый электронный микроскоп FEI Quanta 200 3D с приставкой электронно-лучевой литографии Raith ELPHY Quantum (свидетельство о поверке № 6402 от 20.11.2015 г.).

Рентгеновский дифрактометр Thermo ARL X’TRA  (свидетельство о поверке № 6403 от 20.11.2015 г., сертификат калибровки № 858/3 от 18.11.2015 г.).

Сканирующий зондовый микроскоп  NT-MDT Ntegra Prima (свидетельство о поверке № 6393 от 24.11.2015 г.).

- Комплект оборудования для измерения спектров пропускания и отражения тонких пленок и суспензий на базе спектрофотометра HR 4000.

- Зондовая станция для электрофизических измерений Cascade Microtech Summit 11000M.

- Комплект оборудования для ИК-спектроскопии Nicolet iS50 FT-IR.

- Комплекс на основе масс-спектрометра с индуктивно-связанной плазмой ThermoFisher Scientific iCAP-Qc.

 

Технологическое оборудование

Установка электронно-лучевой литографии Crestec CABL-9000C (ширина литографической линии менее 10 нм).

- Установка безмаскового совмещения и литографии Heidelberg Instruments MLA100.

Вакуумная напылительная установка MagSput-DC-RF.

- Система электронно лучевого напыления MEB 550 S Plassys.

- Установка атомно-слоевого осаждения  Picosun R200 Advance.

- Установка химико-механической полировки  BT 370.

- Установка импульсного лазерного напыления IVO-205-0.3-15.

- Принтер для прямой печати пассивных элементов Dimatix Materials Printer DMP-2831.


Услуги ЦКП МФТИ

Измерение геометрических параметров наноструктур и нанообъектов (ПЭМ, РЭМ, АСМ). Возможность измерения параметров диэлектрических образцов (РЭМ)  в вакууме до 1 Торр.

Определение локального элементного состава с помощью систем энергодисперсионного и волнового рентгеновского микроанализа (EDAX).

Исследование спектров катодолюминесценции в диапазоне длин волн от 300 нм до 1000 нм (Gatan).

Определение фазовой структуры поликристаллов методом дифракции обратно-рассеянных электронов.

Рентгенофазовый и рентгеноструктурный анализ порошков и тонких плёнок (рентгеновская дифракция).

Исследование рельефа и физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью современных методов зондовой микроскопии (АСМ, СТМ).

Исследование и модификация электрических (проводимость, емкостная микроскопия) и магнитных свойств объектов методами сканирующей зондовой микроскопии.

Определение толщин тонких плёнок.

Исследование электрофизических характеристик структур и объектов (в том числе в СВЧ диапазоне).

Электронная литография с предельным разрешением до 10 нм.

Нанесение тонких пленок металлов и диэлектриков от 1 нм до 1 мкм (магнетронное и электронно-лучевое напыление, атомно-слоевое осаждение ).


Коллектив

Руководителем ЦКП является лауреат премии Правительства Российской Федерации в области науки и техники,  д.ф.-м.н., профессор Тодуа Павел Андреевич. В состав коллектива ЦКП входят 1 доктор и 3 кандидата физико-математических и технических наук.


Контакты 

Руководитель ЦКП: Тодуа Павел Андреевич


Заместитель руководителя ЦКП: Негров Дмитрий Владимирович

+7 (926) 383-72-59

negrov.dv@mipt.ru


Адрес размещения центра: г. Долгопрудный, ул. Первомайская, д. 5.

Если вы заметили в тексте ошибку, выделите её и нажмите Ctrl+Enter.

© 2001-2016 Московский физико-технический институт
(государственный университет)

Техподдержка сайта

МФТИ в социальных сетях

soc-vk soc-fb soc-tw soc-li soc-li
Яндекс.Метрика